Scanningtische für aufrechte Mikroskope

Die SCAN-Serie wurde speziell für Anwendungen an aufrechten Mikroskopen entwickelt, die ein automatisches und sehr präzises Positionieren der Proben erfordern. Erweitert durch spezielle Adaptionen, sind diese Mikroskoptische optimal an nahezu alle gängigen Mikroskope angepasst. 

Mit Verfahrbereichen von 75 x 50 mm bis zu 600 x 600 mm erledigen diese Systeme auch zuverlässig hochgenaue Positionieraufgaben in Anwendungsbereichen außerhalb der Mikroskopie.

Ein spezielles Dauerschmiersystem garantiert ein Einhalten der Spezifikationen auch noch nach sehr langen Betriebszeiten.

Das integrierte elektronische Typenschild ETS ermöglicht nicht nur die automatische Erkennung des angeschlossenen Scanningtisches, sondern auch die Parametrisierung der Steuerung.

Als sicheres Zeichen für die außergewöhnliche Produktqualität gewährt Märzhäuser 5 Jahre Garantie, sofern der Scanningtisch im System mit der Märzhäuser TANGO Steuerung betrieben wird!

 

SCAN 75 x 30

 
Artikelnr. Bezeichnung
96-24-561-0000

SCAN 75 x 30
Verfahrbereich: 75 x 30 mm
Spindelsteigung: 1 mm

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96-24-562-0000

SCAN 75 x 30
Verfahrbereich: 75 x 30 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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SCAN 75 x 50

 
Artikelnr. Bezeichnung
00-24-561-0000

SCAN 75 x 50
Verfahrbereich: 75 x 50 mm
Spindelsteigung: 1 mm

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00-24-562-0000

SCAN 75 x 50
Verfahrbereich: 75 x 50 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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SCAN 100 x 100

 
Artikelnr. Bezeichnung
00-24-567-0000

SCAN 100 x 100
Verfahrbereich: 100 x 100 mm
Spindelsteigung: 1 mm

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00-24-568-0000

SCAN 100 x 100
Verfahrbereich: 100 x 100 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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00-24-569-0000

SCAN 100 x 100
Verfahrbereich: 100 x 100 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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SCAN 130 x 85

 
Artikelnr. Bezeichnung
31-24-640-0000

SCAN 130 x 85
für Leica DM4000 - DM6000
Verfahrbereich: 130 x 85 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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31-24-641-0000

SCAN 130 x 85
für Leica DM4000 - DM6000
Verfahrbereich: 130 x 85 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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45-24-640-0000

SCAN 130 x 85
für Nikon-Mikroskope
Verfahrbereich: 130 x 85 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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45-24-641-0000

SCAN 130 x 85
für Nikon-Mikroskope
Verfahrbereich: 130 x 85 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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48-24-640-0000

SCAN 130 x 85
für Olympus BX-Serie
Verfahrbereich: 130 x 85 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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48-24-641-0000

SCAN 130 x 85
für Olympus BX-Serie
Verfahrbereich: 130 x 85 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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90-24-640-0000

SCAN 130 x 85
für Zeiss Axio Imager
Verfahrbereich: 130 x 85 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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90-24-641-0000

SCAN 130 x 85
für Zeiss Axio Imager
Verfahrbereich: 130 x 85 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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SCAN 150 x 150

 
Artikelnr. Bezeichnung
00-24-633-0000

SCAN 150 x 150
Verfahrbereich: 150 x 150 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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00-24-634-0000

SCAN 150 x 150
Verfahrbereich: 150 x 150 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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SCAN 200 x 200

 
Artikelnr. Bezeichnung
00-24-836-0000

SCAN 200 x 200
Verfahrbereich: 200 x 200 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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00-24-837-0000

SCAN 200 x 200
Verfahrbereich: 200 x 200 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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SCAN 225 x 76

 
Artikelnr. Bezeichnung
00-24-534-0000

SCAN 225 x 76
Verfahrbereich: 225 x 76 mm
Spindelsteigung: 1 mm

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00-24-535-0000

SCAN 225 x 76
Verfahrbereich: 225 x 76 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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00-24-536-0000

SCAN 225 x 76
Verfahrbereich: 225 x 76 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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SCAN 300 x 300

 
Artikelnr. Bezeichnung
00-24-122-0000

SCAN 300 x 300
Verfahrbereich: 300 x 300 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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00-24-124-0000

SCAN 300 x 300
Verfahrbereich: 300 x 300 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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SCAN für 8 Objektträger

 
Artikelnr. Bezeichnung
00-24-506-0000

SCAN für 8 Objektträger
Verfahrbereich: 225 x 76 mm
Spindelsteigung: 2 mm

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00-24-507-0000

SCAN für 8 Objektträger
Verfahrbereich: 225 x 76 mm
Spindelsteigung: 4 mm

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