SCAN IM 120 x 100
für Nikon Eclipse TS100
Verfahrbereich: 120 x 100 mm
Spindelsteigung: 2 mm
anwendungsbezogen auswechselbare Einlegerahmen
SCAN IM 120 x 100 (00-24-453-0000)
- Nikon Eclipse TS100/TS100F
Abmaße: 160 x 110 x 8 mm
für Proben mit Ø 20 - 74 mm
sowie Objektträger 76 x 26 mm od. 76 x 52 mm
